/
: :
ŞRİFTİN ÖLÇÜSÜ
A A A
ŞRİFTİN NÖVÜ
ŞƏKİLLƏRİN TƏSVİRİ
RƏNGİN TƏSVİRİ

İşıq mənbələri və optik sistemlərin yüksək həssaslıqla ölçülməsi mümkün olacaq

02.04.2025

Azərbaycan Metrologiya İnstitutunda (AzMİ) yeni laboratoriyaların qurulması, həmçinin mövcud infrastrukturun təkmilləşdirilməsi və yeni texnologiyaların tətbiqi istiqamətində istiqamətində həyata keçirilən tədbirlər davam etdirilir. Bu çərçivədə AzMİ-də yeni fotometrik ölçmələr laboratoriyasının qurulması işləri həyata keçirilir.

Belə ki, sözügedən laboratoriya V(λ) funksiyasına uyğunlaşdırılmış filtrlə təchiz edilmiş etalon və işçi fotometr başlıqlar, fotometrik masa (photometric bench) və 1000 Vt-lıq Tungsten filament işıq şiddəti lampaları kimi cihazlarla təchiz olunub. Burada işıq mənbələri, optik sistemlər və materialların fotometrik xüsusiyyətlərinin yüksək həssaslıqla ölçülməsi həyata keçiriləcək.

Bundan əlavə, laboratoriyada fotometrik ölçmələrin dəqiqliyini və izlənilə bilən olmasını təmin etmək üçün proqramlaşdırıla bilən enerji mənbələri, rəqəmsal multimetr və avtomatlaşdırılmış ölçmə sistemlərindən istifadə olunur. Bu da aparılan testlərin təkrarlana bilərliyini və dəqiqliyini təmin edir.

Məlumat üçün bildirək ki, AzMİ-nin fotometrik ölçmələri laboratoriyasında işıq şiddəti və işıqlanma kimi əsas parametrləri, o cümlədən digər işıq kəmiyyətlərini və spektral xüsusiyyətləri ölçmək mümkün olacaq.

İşıq mənbələri və optik sistemlərin yüksək həssaslıqla ölçülməsi mümkün olacaq
İşıq mənbələri və optik sistemlərin yüksək həssaslıqla ölçülməsi mümkün olacaq
İşıq mənbələri və optik sistemlərin yüksək həssaslıqla ölçülməsi mümkün olacaq
İşıq mənbələri və optik sistemlərin yüksək həssaslıqla ölçülməsi mümkün olacaq
İşıq mənbələri və optik sistemlərin yüksək həssaslıqla ölçülməsi mümkün olacaq
İşıq mənbələri və optik sistemlərin yüksək həssaslıqla ölçülməsi mümkün olacaq
İşıq mənbələri və optik sistemlərin yüksək həssaslıqla ölçülməsi mümkün olacaq
İşıq mənbələri və optik sistemlərin yüksək həssaslıqla ölçülməsi mümkün olacaq
İşıq mənbələri və optik sistemlərin yüksək həssaslıqla ölçülməsi mümkün olacaq
İşıq mənbələri və optik sistemlərin yüksək həssaslıqla ölçülməsi mümkün olacaq